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XRF元素分析儀Thick800A透過分析熒光的強度來計算出金屬電鍍層厚度的測試裝置·✘│╃。電鍍層測厚儀透過計算機自動操作│↟│☁，自動檢測算出電鍍層厚度│↟│☁，操作方便·✘│╃。 提供質量穩定價效比高的電鍍層測厚儀Thick800A,鍍層測厚儀用於分析電鍍鋅層厚度│↟│☁，電鍍銀層厚度│↟│☁，電鍍鉻層厚度│↟│☁，電鍍鋅層厚度│↟│☁，電鍍鎳層厚度│↟│☁，金屬電鍍測厚儀比較好的品牌是天瑞儀器│↟│☁，三大主流品牌之一·✘│╃。
XRF元素分析儀Thick800A產品介紹▩·☁▩↟：
是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器·✘│╃。主要應用於▩·☁▩↟：金屬鍍層的厚度測量◕│↟、電鍍液和鍍層含量的測定； ◕│↟、鉑◕│↟、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測·✘│╃。
XRF元素分析儀Thick800A效能優勢▩·☁▩↟：
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
的影象識別
輕鬆實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器│↟│☁，自動切換
雙重保護措施│↟│☁，實現無縫防撞
採用大面積高解析度探測器│↟│☁，有效降低檢出限│↟│☁，提高測試精度
全自動智慧控制方式│↟│☁，一鍵式操作!
開機自動退出自檢◕│↟、復位
開蓋自動退出樣品臺│↟│☁，升起Z軸測試平臺│↟│☁，方便放樣
關蓋推進樣品臺│↟│☁，下降Z軸測試平臺並自動完成對焦
直接點選全景或區域性景影象選取測試點
點選軟體介面測試按鈕│↟│☁，自動完成測試並顯示測試結果
XRF元素分析儀Thick800A技術指標▩·☁▩↟：
分析元素範圍▩·☁▩↟：從硫（S）到鈾（U）
同時檢測元素▩·☁▩↟：多24個元素│↟│☁，多達五層鍍層
檢出限▩·☁▩↟：可達2ppm│↟│☁，薄可測試0.005μm
分析含量▩·☁▩↟：一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度▩·☁▩↟：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重複性▩·☁▩↟：可達0.1%
穩定性▩·☁▩↟：可達0.1%
SDD探測器▩·☁▩↟：解析度低135eV
採用的微孔準直技術│↟│☁，小孔徑達0.1mm│↟│☁，小光斑達0.1mm
樣品觀察▩·☁▩↟：配備全景和區域性兩個工業高畫質攝像頭
準直器▩·☁▩↟：0.3×0.05mm◕│↟、Ф0.1mm◕│↟、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸▩·☁▩↟：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸▩·☁▩↟：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸▩·☁▩↟：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度▩·☁▩↟：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重複定位精度 ▩·☁▩↟：小於0.1um
操作環境溼度▩·☁▩↟：≤90%
操作環境溫度 15℃～30℃
