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天瑞儀器X射線金屬鍍層測厚儀Thick800A 是天瑞集多年的經驗│₪,專門研發用於鍍層行業的一款儀器│₪,可全自動軟體操作│₪,可多點測試│₪,由軟體控制儀器的測試點│₪,以及移動平臺☁╃╃。是一款功能強大的儀器│₪,配上專門為其開發的軟體│₪,在鍍層行業中可謂大展身手☁╃╃。
天瑞儀器X射線金屬鍍層測厚儀Thick800A效能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點│₪,重複定位精度小於0.005mm
採用高度定位鐳射│₪,可自動定位測試高度
定位鐳射確定定位光斑│₪,確保測試點與光斑對齊
滑鼠可控制移動平臺│₪,滑鼠點選的位置就是被測點
高解析度探頭使分析結果更加精準
良好的射線遮蔽作用
測試口高度敏感性感測器保護
天瑞儀器X射線金屬鍍層測厚儀Thick800A技術指標
型號•▩:Thick 800A
元素分析範圍從硫(S)到鈾(U)☁╃╃。
同時可以分析30種以上元素│₪,五層鍍層☁╃╃。
分析檢出限可達2ppm│₪,薄可測試0.005μm☁╃╃。
分析含量一般為ppm到99.9% ☁╃╃。
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型☁╃╃。
相互獨立的基體效應校正模型☁╃╃。
多變數非線性回收程式
多次測量重複性可達0.1%
長期工作穩定性可達0.1%
度適應範圍為15℃30℃☁╃╃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流淨化穩壓電源☁╃╃。
外觀尺寸•▩: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸•▩:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量•▩:90kg
標準配置
開放式樣品腔☁╃╃。
精密二維移動樣品平臺│₪,探測器和X光管上下可動│₪,實現三維移動☁╃╃。
雙鐳射定位裝置☁╃╃。
鉛玻璃遮蔽罩☁╃╃。
Si-Pin探測器☁╃╃。
訊號檢測電子電路☁╃╃。
高低壓電源☁╃╃。
X光管☁╃╃。
高度感測器
保護感測器
計算機及噴墨印表機
應用領域
│₪,鉑│₪,銀等貴金屬和各種飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定☁╃╃。
主要用於貴金屬加工和飾加工行業;銀行│₪,飾銷售和檢測機構;電鍍行業☁╃╃。