列印當前頁
鍍層測厚儀THICK800A 是天瑞集多年的經驗✘₪，專門研發用於鍍層行業的一款儀器✘₪，可全自動軟體操作✘₪，可多點測試✘₪，由軟體控制儀器的測試點✘₪，以及移動平臺↟╃╃☁✘。是一款功能強大的儀器✘₪，配上專門為其開發的軟體✘₪，在鍍層行業中可謂大展身手↟╃╃☁✘。
鍍層測厚儀THICK800A 工作原理
從X熒光分析測量原理可以看出鍍層被激發區的特徵X射線的強度與鍍層和塗層元素含量多少成正比↟╃╃☁✘。在一定被激發區的測量區域內✘₪，鍍層和塗層元素百分比含量是固定的✘₪，因而所測得的X熒光強度與該測量範圍鍍層和塗層的厚度成一定正比例關係↟╃╃☁✘。在一定的厚度範圍內✘₪，鍍層和塗層的厚度與激發區的特徵X射線的強度成正比例關係✘₪，因此只要測量該範圍內的X熒光強度值✘₪，即可算出鍍層和塗層的厚度↟╃╃☁✘。
鍍層測厚儀THICK800A 應用領域
鐵基----□Fe/Zn,□Fe/Cu✘₪，□Fe/Ni✘₪，□Fe/Cu/Sn✘₪，□Fe/Cu/Au✘₪，□Fe/Cu/Ni✘₪，
□Fe/Cu/Ni/Cr✘₪， □Fe/Cu/Ni/Au✘₪，□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基-----□Cu/Ni✘₪，□Cu/Ag✘₪，□Cu/Au✘₪，□Cu/Sn✘₪，□Cu/Ni/Sn✘₪，□Cu/Ni/Ag✘₪，□Cu/Ni/Au✘₪，□Cu/Ni/Cr
鋅基-----□Zn/Cu✘₪，□Zn/Cu/Ag✘₪，□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金----□Al/Cu✘₪，□Al/Ni✘₪，□Al/Cu/Ag✘₪，□Al/Cu/Au
塑膠基體----plastic/Cu/Ni✘₪，plastic/Cu/Ni/Cr
應用優勢
1 快速│·：一般測量一個樣品只需要30S～300S✘₪，樣品可不處理或進行簡單處理；
2 無損│·：物理測量✘₪，不改變樣品性質；
3 準確│·：對樣品可以分析；
4 直觀│·：直觀的分析譜圖✘₪，元素分佈一幕瞭然✘₪，定性分析速度快；
5 環保│·：檢測過程中不產生任何廢氣▩▩₪··、廢水↟╃╃☁✘。
儀器配置
1 硬體│·：主機壹臺✘₪，含下列主要部件│·：
(1) X光管 (2) 半導體探測器
(3) 放大電路 (4) 高精度樣品移動平臺
(5) 高畫質晰攝像頭 (6) 高壓系統
(7) 上照▩▩₪··、開放式樣品腔 (8）雙鐳射定位
(9) 玻璃遮蔽罩
2 軟體│·：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟體V1.0
3 計算機▩▩₪··、印表機各一臺
計算機（品牌✘₪，P4✘₪，液晶顯示屏）▩▩₪··、印表機（佳能✘₪，彩色噴墨印表機）
4 資料│·：使用說明書（包括軟體操作說明書和硬體使用說明書）▩▩₪··、出廠檢驗合格證明▩▩₪··、裝箱單▩▩₪··、保修單及其它應提供資料各一份↟╃╃☁✘。
5 標準附件
準直孔│·：0.1X1.0mm（已內置於儀器中）
引數規格
1 分析元素範圍│·：S-U
2 同時可分析多達5層以上鍍層
3 分析厚度檢出限達0.005μm
4 多次測量重複性可達0.01μm
5 定位精度│·：0.1mm
6 測量時間│·：30s-300s
7 計數率│·：1300-8000cps
8 Z軸升降範圍│·：0-140mm
9 X/Y平臺可移動行程│·：50mm(W)×50mm(D)
效能特點
1 滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求；
2 φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；
3 高精度移動平臺可定位測試點✘₪，重複定位精度小於0.005mm；
4 採用高度定位鐳射✘₪，可自動定位測試高度；
5 定位鐳射定位光斑✘₪，確保測試點與光斑對齊；
6 滑鼠可控制移動平臺✘₪，滑鼠點選的位置就是被測點；
7 高解析度探頭使分析結果更加精準；
8 良好的射線遮蔽作用；
9 測試口高度敏感性感測器保護；
安裝要求│·：
1 環境溫度要求│·：15℃-30℃
2 環境相對溼度│·：<70%
3 工作電源│·：交流220±5V
4 周圍不能有強電磁干擾↟╃╃☁✘。
質量保證
1. 乙方對所出售本合同所規定的儀器進行終身維修；
2. 軟體免費升級│·：如有軟體升級✘₪，乙方將免費提供軟體升級✘₪，不再收取升級費用；
3. 保修條款
3.1. 儀器裝置自驗收合格之日起免費保修1年；
3.2. 免費保修期內✘₪，維修相關費用全免；
Thick800A操作說明書│·：
1） 滑鼠雙擊桌面上的“FpThick”軟體圖示│·：使用者使用“Administrator”✘₪，密碼│·：skyray
2） 進入測試軟體後✘₪，選擇“測試條件”
點選“開啟”彈出以下│·：點選“確定”✘₪，即測試條件確定
3） 選擇“工作曲線”✘₪，如下圖│·：
選擇所需要的工作曲線✘₪，此處以Ni/Fe曲線為例✘₪，如下圖│·：
完成以上步驟後✘₪，工作曲線即已經選定4） 放入“Ag片”對儀器進行初始化
放好Ag片後點擊初始化按鈕✘₪，初始化完成後✘₪，（峰通道為1105✘₪，計數率達到一定的數✘₪，如300以上）↟╃╃☁✘。5） 放入需要測試的樣品✘₪，點選“開始”鍵✘₪，輸入樣品名稱後“確定”測試完成後即可保持✘₪，的位置可以在桌面的“分析”快捷方式中的“鍍層”中找到↟╃╃☁✘。注意│·：測試鍍層樣品時✘₪，必須先要確定是什麼鍍層▩▩₪··、選擇好對應的工作曲線測試↟╃╃☁✘。
